ソリューションプロバイダー
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SNJ54BCT8374AFK
SNJ54BCT8374AFK

Texas Instruments
ブランド
チューブ
包装
バッチ
200
株式
製品仕様書
タイプ説明
製造元Texas Instruments
シリーズ54BCT
パッケージチューブ
製品の状態ACTIVE
パッケージ・ケース28-CLCC
取付タイプSurface Mount
ビット数8
ロジックタイプScan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
動作温度-55°C ~ 125°C
供給電圧4.5V ~ 5.5V
サプライヤーデバイスパッケージ28-LCCC (11.43x11.43)
技術文書
製品概要
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-T
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